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Positive gate-bias temperature instability of ZnO thin-film transistor
刘玉荣, 苏晶, 黎沛涛, 姚若河
Positive gate-bias temperature instability of ZnO thin-film transistor
Liu Yu-Rong (刘玉荣), Su Jing (苏晶), Lai Pei-Tao (黎沛涛), Yao Ruo-He (姚若河)
中国物理B . 2014, (
6
): 68501 -068501 . DOI: 10.1088/1674-1056/23/6/068501