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Temperature dependence of single event transient in 90-nm CMOS dual-well and triple-well NMOSFETs
李达维, 秦军瑞, 陈书明
Temperature dependence of single event transient in 90-nm CMOS dual-well and triple-well NMOSFETs
Li Da-Wei (李达维), Qin Jun-Rui (秦军瑞), Chen Shu-Ming (陈书明)
中国物理B . 2013, (
2
): 29401 -029401 . DOI: 10.1088/1674-1056/22/2/029401