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Structural characterization of V/Al/V/Au Ohmic contacts to n-type Al
0.4
Ga
0.6
N
李涛, 秦志新, 许正昱, 沈波, 张国义
Structural characterization of V/Al/V/Au Ohmic contacts to n-type Al
0.4
Ga
0.6
N
Li Tao(李涛), Qin Zhi-Xin(秦志新), Xu Zheng-Yu(许正昱), Shen Bo(沈波), and Zhang Guo-Yi(张国义)
中国物理B . 2011, (
4
): 46101 -046101 . DOI: 10.1088/1674-1056/20/4/046101