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Yield strengths and stress induced crackles in copper films: effects of substrate and passivated layer
张建民, 徐可为
Yield strengths and stress induced crackles in copper films: effects of substrate and passivated layer
Zhang Jian-Min (张建民), Xu Ke-Wei (徐可为)
中国物理B . 2004, (
2
): 205 -211 . DOI: 10.1088/1009-1963/13/2/015