Charge trapping behavior and its origin in Al2O3/SiC MIS system
Liu Xin-Yua) , Wang Yi-Yua) , Peng Zhao-Yanga) , Li Cheng-Zhanb) , Wu Jiab) , Bai Yuna) , Tang Yi-Dana) , Liu Ke-Anb) , Shen Hua-Jun†a) 
