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First-principles calculations of the hole-induced depassivation of SiO
2
/Si interface defects
Zhuo-Cheng Hong(洪卓呈), Pei Yao(姚佩), Yang Liu(刘杨), and Xu Zuo(左旭)
First-principles calculations of the hole-induced depassivation of SiO
2
/Si interface defects
Zhuo-Cheng Hong(洪卓呈), Pei Yao(姚佩), Yang Liu(刘杨), and Xu Zuo(左旭)
中国物理B . 2022, (
5
): 57101 -057101 . DOI: 10.1088/1674-1056/ac3506