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Passivation and dissociation of
P
b
-type defects at a-SiO
2
/Si interface
Xue-Hua Liu(刘雪华), Wei-Feng Xie(谢伟锋), Yang Liu(刘杨), and Xu Zuo(左旭)
Passivation and dissociation of
P
b
-type defects at a-SiO
2
/Si interface
Xue-Hua Liu(刘雪华), Wei-Feng Xie(谢伟锋), Yang Liu(刘杨), and Xu Zuo(左旭)
中国物理B . 2021, (
9
): 97101 -097101 . DOI: 10.1088/1674-1056/ac0e20