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Influences of supply voltage on single event upsets and multiple-cell upsets in nanometer SRAM across a wide linear energy transfer range
Yin-Yong Luo(罗尹虹), Wei Chen(陈伟), Feng-Qi Zhang(张凤祁), and Tan Wang(王坦)
中国物理B . 2021, (
4
): 48502 . DOI: 10.1088/1674-1056/abcf38