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First-principles calculations of F-, Cl-, and N-related defects of amorphous SiO
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and their impacts on carrier trapping and proton release
Xin Gao(高鑫), Yunliang Yue(乐云亮), Yang Liu(刘杨), and Xu Zuo(左旭)
中国物理B . 2021, (
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): 47104 . DOI: 10.1088/1674-1056/abe3f7