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A new algorithm based on
C-V
characteristics to extract the epitaxy layer parameters for power devices with the consideration of termination
Jiupeng Wu(吴九鹏), Na Ren(任娜), and Kuang Sheng(盛况)
中国物理B . 2021, (
4
): 48505 . DOI: 10.1088/1674-1056/abcf9e