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Passivation of carbon dimer defects in amorphous SiO
2
/4H-SiC (0001) interface: A first-principles study
张轶杰, 尹志鹏, 苏艳, 王德君
Passivation of carbon dimer defects in amorphous SiO
2
/4H-SiC (0001) interface: A first-principles study
Yi-Jie Zhang(张轶杰), Zhi-Peng Yin(尹志鹏), Yan Su(苏艳), De-Jun Wang(王德君)
中国物理B . 2018, (
4
): 47103 -047103 . DOI: 10.1088/1674-1056/27/4/047103