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Numerical study on the dependence of ZnO thin-film transistor characteristics on grain boundary position
张安, 赵小如, 段利兵, 刘金铭, 赵建林
Numerical study on the dependence of ZnO thin-film transistor characteristics on grain boundary position
Zhang An(张安), Zhao Xiao-Ru(赵小如), Duan Li-Bing(段利兵), Liu Jin-Ming(刘金铭), and Zhao Jian-Lin(赵建林)
中国物理B . 2011, (
5
): 57201 -057201 . DOI: 10.1088/1674-1056/20/5/057201