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Effect of interface roughness on the carrier transport in germanium MOSFETs investigated by Monte Carlo method
杜刚, 刘晓彦, 夏志良, 杨竞峰, 韩汝琦
Effect of interface roughness on the carrier transport in germanium MOSFETs investigated by Monte Carlo method
Du Gang(杜刚), Liu Xiao-Yan(刘晓彦), Xia Zhi-Liang(夏志良), Yang Jing-Feng(杨竞峰), and Han Ru-Qi(韩汝琦)
中国物理B . 2010, (
5
): 57304 -057304 . DOI: 10.1088/1674-1056/19/5/057304