×
模态框(Modal)标题
在这里添加一些文本
关闭
关闭
提交更改
取消
确定并提交
×
模态框(Modal)标题
在这里添加一些文本
关闭
Raman analysis of defects in n-type 4H-SiC
杨银堂, 韩茹, 王平
Raman analysis of defects in n-type 4H-SiC
Yang Yin-Tang(杨银堂), Han Ru(韩茹), and Wang-Ping(王平)
中国物理B . 2008, (
9
): 3459 -3463 . DOI: 10.1088/1674-1056/17/9/053